FEI resmi sitesinde Temmuz ayında XHR-SEM (Extreme High Resolution SEM - Aşırı Yüksek Çözünürlüklü TTM) adlı bir mikroskop çıkaracağını duyurdu. Sitede mikroskopla ilgili şu an iki kısa video var.
İlkinde Trisha Rice - NanoPort Müdürü - mikroskopun kullanımının gerçekten çok kolay olduğundan bahsediyor. İkinci videoda Todd Templeton - Ürün Pazarlama Müdürü - XHR-SEM'in şimdiki TTM'lerden çok daha fazla çözünürlüğe [nm altı] sahip olduğundan bahsediyor.
İlerleyen günlerde 4 video daha gösterilecek. Bu videolarda mikroskopun kullanım alanlarından bahsedilecek.
Mikroskobun sloganı "... ve daha önce hiç görmediğiniz şeyleri göreceksiniz!"
Mikroskopu görmek isteyenler Albuerquerque - New Mexico - Booth 2141'i 4-7 Ağustos tarihleri arasında ziyaret edebilir.
Kaynak: 1
Taşındım! Yeni adresim: http://nanoturkiye.net
13 Haziran 2008 Cuma
FEI 'den Yeni Tarama Tünelleme Mikroskobu
Etiketler:
fei,
nanoteknoloji haberleri,
tarama tünelleme mikroskobu
FEI 'den Yeni Tarama Tünelleme Mikroskobu
2008-06-13T22:34:00+03:00
Ahmet Yükseltürk
fei|nanoteknoloji haberleri|tarama tünelleme mikroskobu|
Kaydol:
Kayıt Yorumları (Atom)